
1、沉积温度低,不损伤器件
等离子体辅助分解前驱体,远低于传统 CVD 温度。
对金属、光刻胶、低介电材料、敏感器件热损伤极小,适合后段制程(BEOL)。
2、薄膜均匀性 & 台阶覆盖优异
气相 + 等离子体双重反应,膜厚均匀性极高。
对高深宽比沟槽、通孔、阶梯结构保形性好,满足先进制程要求。
3、膜层致密、应力可控
可制备 SiO₂、SiNₓ、SiON、非晶硅、碳化硅等多种功能膜。
膜质致密、针孔少,绝缘、钝化、阻隔性能强。
能通过功率、气压、气体比例精确调控薄膜应力。
4、适合大规模量产,一致性强
工艺稳定、重复性好,适合 8/12 英寸晶圆产线。
成膜速度快,产能高、成本可控,是 Fab 标配工艺。
5、与 CMOS 工艺高度兼容
不引入有害杂质,洁净度高。
可与蚀刻、清洗、ALD 等工艺串联集成,适配 FinFET、3D NAND、GAA 等先进结构。
6、功能膜种类多,覆盖关键制程需求
钝化层、缓冲层、刻蚀硬掩模
金属间介质层(ILD)
侧壁保护层、应力调节层、阻隔层一台设备就能满足多道关键工序。
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